Компания Bruker – мировой лидер в области трехмерных измерений и инспекции поверхностей. Лучшие в своем классе по простоте использования, автоматизации и анализу получаемых данных, профилометры серии ContourGT открывают перед пользователем безграничные возможности по исследованию образцов, как в материаловедении, так и в медицине.
Оптический профилометр ContourGT-I открывает новый стандарт в поколении профилометров ContourGT, позволяющий улучшить производительность исследовательских работ и увеличить пропускную способность в промышленном применении. ContourGT-I разработан специально, чтобы максимально ускорить и упростить подготовку образца, прибора и сам процесс измерений. Это первый в мире настольный профилометр, в котором все процессы, включая управление объективами, линзами и освещением полностью автоматизированы, а наклон сканирующей головки обеспечивает гибкость угла измерения, точное и быстрое формирование изображения.
Система освещения с двумя источниками LED, высокая скорость сканирования, высокое разрешение и повторяемость результатов, большой диапазон сканирования по вертикали, наклон сканирующей головки, доступность, простота и широкие возможности программного обеспечения, а также возможность работать с образцами высотой до 150 мм делают ContourGT-I самой полной на сегодняшний день настольной платформой, доступной для анализа и оценки качества поверхностей материалов.
По сравнению с наклоном основания, реализованным у ContourGT-K, где для получения изображения нужной области необходима настройка нужного наклона, правильного положения основания и фокусировки (движения X,Y,Z), теперь как бы не менялся угол наклона головки, интересующая область на поверхности всегда остается в поле зрения, что делает процесс получения данных еще проще и быстрее.
Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм с субнанометровым разрешением.
Доступный пользовательский интерфейс ПО и наличие всевозможных опций по анализу полученных изображений превращает рутинную и скучную работу с прибором в интересную и творческую.Наличие атомно-силовой головки NanoLens™ позволяет достичь высочайшего латерального разрешения, и снимать образцы, съемка которых затруднена оптической системой.
Объективы и линзы поля зрения
|
К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже.
|
Камеры
В базовой комплектации включена камера 640 x 480. Возможно приобретение дополнительных камер:
Насадка для атомно-силовой микроскопии NanoLens™
|
NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась
|
Кроме того, наличие дополнительных методов АСМ позволяют помимо топографии поверхности, получить также информацию о ее свойствах.
Получение и анализ данных с помощью оптической профилометрии и атомно-силовой микроскопии осуществляется с помощью одного программного обеспечения, что не только позволяет оператору быстро просканировать поверхность, но и быстро проанализировать полученные данные с помощью одной программы, сопоставив полученную информацию от обоих методов.
Диапазон сканирования по XY |
70 х 70 мкм - в турели с объективами |
Диапазон сканирования по Z |
22 мкм |
Режимы работы |
Статический |
Уровни шума по вертикали (Z) |
0,4 нм в статическом режиме |
Основание для образцов XY |
150 мм моторизованное |
Перемещение по Z |
100 мм моторизованное |
Функция наклона |
наклон сканирующей головки на ±5° |
Источник света |
Два светодиода с большим сроком службы |
Матрица камеры |
640 x 480 |
Объективы |
Стандартные: 1x, 2.5x,5.0x,10x,20x,50x,115x |
Крепление объективов |
Адаптер под один объектив |
Линзы поля зрения |
0.5,0.75,1.0,1.5,2.0X |
Максимальный предел сканирования по вертикали |
10 мм |
Разрешение по вертикали |
<0,08 мм |
Повторяемость RMS |
0,01 нм |
Латеральное разрешение |
0,38 мкм |
Максимальная скорость сканирования |
73 мкм/с |
Коэффициент отражения образцов |
0.05% - 100% |
Высота образцов |
До 10 см |
ПО |
Vision64 на базе Windows 7 64-бит |
Калибровка |
Калибровочные стандарты |
Габариты |
452мм x 534мм x 683мм |
Вес системы |
60 кг |
По сравнению с наклоном основания, реализованным у ContourGT-K, где для получения изображения нужной области необходима настройка нужного наклона, правильного положения основания и фокусировки (движения X,Y,Z), теперь как бы не менялся угол наклона головки, интересующая область на поверхности всегда остается в поле зрения, что делает процесс получения данных еще проще и быстрее.
Широкие возможности по выбору объективов и линз, корректирующих поле зрения, а также наличие опции склейки изображений, позволяют получать изображения интересующих участков поверхностей размером от десятков и сотен мкм до 100х100 мм с субнанометровым разрешением.
К профилометрам дополнительно можно приобрести объективы и линзы, корректирующие поле зрения. Выбор обуславливается поставленными задачами – полями зрения, которые необходимо достичь и разрешением. Все возможные объективы и линзы представлены ниже.
NanoLens™ представляет собой АСМ головку, которая может быть установлена в обычную турель оптического профилометра. Благодаря моторизации турели, путем одного клика мыши можно легко перейти от оптической профилометрии к атомно-силовой микроскопии, что расширяет возможности профилометра и делает его еще более мощным инструментом анализа материалов. Наличие АСМ не только способствует увеличению латерального разрешения (менее 10 нм), которое не возможно достичь оптическим методом, но и позволяет снимать материалы, с которыми ранее оптика не справлялась